AOI視覺(jué)檢測(cè)可應(yīng)用于哪些行業(yè)AOI機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)可適檢：視覺(jué)檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備的應(yīng)用范圍較廣，視覺(jué)檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備主要測(cè)試項(xiàng)目尺寸檢驗(yàn),，缺陷檢測(cè)等,，可以在許多行業(yè)中使用。具體視覺(jué)檢測(cè)需對(duì)應(yīng)需求：1,、電池產(chǎn)品檢測(cè)：電池類(lèi)產(chǎn)品異物,、劃痕、壓痕,、極耳不良,、污染,、腐蝕,、凹點(diǎn),、極耳燒傷、噴碼不良,、字符模糊等外觀(guān)缺陷檢測(cè),；2、PCB電路板檢測(cè)：PCB電路板產(chǎn)品外形,、尺寸,、管腳和貼片檢測(cè)，以及焊點(diǎn),、方向錯(cuò)誤等完整性檢測(cè),；3、精密部件檢測(cè)：螺絲,、軸承,、齒輪等精密部件的長(zhǎng)寬高、直徑等尺寸測(cè)量,，劃傷,、劃痕、缺損,、等表面缺陷檢測(cè),；4、電子元器件檢測(cè)：連接器,、電容,、電阻等的尺寸測(cè)量，PIN針偏移,、變形,、短缺等缺陷，印刷字符檢測(cè)等,；5,、食品包裝檢測(cè)：食品包裝的外觀(guān)完整性檢測(cè)、條碼識(shí)別,、密封性檢測(cè),；飲料分揀與色選、液體檢測(cè),，生產(chǎn)日期,、保質(zhì)期字符識(shí)別；灌裝線(xiàn)上空瓶破損,、潔凈檢測(cè)等,；6,、醫(yī)藥包裝檢測(cè)：醫(yī)藥塑料瓶、玻璃瓶的長(zhǎng)度,、高度,、直徑等尺寸測(cè)量，破損,、黑點(diǎn)等缺陷檢測(cè),；7、紡織服裝輔料檢測(cè)：紡織服裝輔料（如金屬紐扣,、塑料紐扣等）的尺寸測(cè)量,、外觀(guān)缺陷檢測(cè)及標(biāo)簽字符檢測(cè)等。AOI機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域視覺(jué)檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備的應(yīng)用范圍較廣,。東莞多功能AOI檢測(cè)設(shè)備

AOI工作原理自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分為兩類(lèi)：可見(jiàn)光檢測(cè)和X光檢測(cè)AOI檢測(cè)分為兩部分：光學(xué)部分和圖像處理部分,，通過(guò)光學(xué)部分獲得需要檢測(cè)的圖像；通過(guò)圖像處理部分來(lái)分析,、處理和判斷,。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持，因?yàn)楹畏N缺陷需要不同的計(jì)算方法用電腦進(jìn)行計(jì)算和判斷,。燈光變化的智能控制人認(rèn)識(shí)物體是通過(guò)光線(xiàn)反射回來(lái)的量進(jìn)行判斷,，反射量多為量，反射量少為暗,。AOI與人判斷原理相同,。AOI通過(guò)人工光源LED燈光代替自然光，光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,，把從光源反射回來(lái)的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較,、分析和判斷。對(duì)AOI來(lái)說(shuō),，燈光是認(rèn)識(shí)影響的關(guān)鍵因素,，但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響,，不能維持不變的光源,，因此需要通過(guò)“自動(dòng)跟蹤”燈光“透過(guò)率“對(duì)燈光變化進(jìn)行智能控制。焊點(diǎn)檢測(cè)原理AOI是X,、Y平面（2D）檢測(cè),，而焊點(diǎn)是立體的，因此需要3D檢測(cè)焊點(diǎn)高度（Z）,。3D檢測(cè)的方法有當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí),，元件部分燈光反射到camera，而焊點(diǎn)部分光線(xiàn)反射出去,。與此相反,，用底部（水平）燈光照射時(shí),，元件部分燈光反射出去，焊點(diǎn)部分光線(xiàn)反射到career,。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響,。東莞AOI檢測(cè)設(shè)備原理深圳市和田古德自動(dòng)化設(shè)備有限公司自主研發(fā)生產(chǎn)的檢測(cè)設(shè)備AOI和SPI。

二,、AOI被應(yīng)用于電子元器件檢測(cè)時(shí)主要運(yùn)用在中下游領(lǐng)域AOI檢測(cè)目前階段主要對(duì)于PCB印刷電路板的光板,、錫膏印刷,、元件,、焊后組件以及集成電路芯片的晶圓外觀(guān)、2D/3D,、Bumping和IC封裝等領(lǐng)域開(kāi)展檢測(cè),。PCB印刷電路板：PCB光板檢測(cè)，錫膏印刷檢測(cè),，元件檢測(cè),，焊后組件檢測(cè)等；集成電路芯片：晶圓外觀(guān)檢測(cè),、2D/3D檢測(cè),，Bumping檢測(cè)、IC封裝檢測(cè)等,；FPD平板顯示器：Mura缺陷檢測(cè),，Colorfilter檢測(cè)，PI檢測(cè),，LC液晶檢測(cè),，色度、膜厚,、光學(xué)密度檢測(cè)LC液晶檢測(cè),，色度、膜厚,、光學(xué)密度檢測(cè),；其他行業(yè)汽車(chē)電子檢測(cè)、MicroCrack檢測(cè)等,；

AOI的種類(lèi)由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同,，AOI系統(tǒng)可大致分為以下幾種：1)按圖象拾取設(shè)備分類(lèi)：①使用黑白CCD攝像頭②使用彩色CCD攝像頭③使用高分辨率掃描儀2）按測(cè)試項(xiàng)目分類(lèi)：①主要檢測(cè)焊點(diǎn)②主要檢測(cè)元件③元件和焊點(diǎn)都檢測(cè)3）按設(shè)備的結(jié)構(gòu)分類(lèi)①需要?dú)庠垂猗诓恍铓庠垂?）按測(cè)試時(shí)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式分類(lèi)①電路板固定，攝像頭或掃描儀移動(dòng)②攝像頭和電路板各往一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)③攝像頭固定,，電路板進(jìn)行兩個(gè)方向的運(yùn)動(dòng)AOI的三種機(jī)型：結(jié)合以上的各種配置,，形成了主要的三種機(jī)器類(lèi)型：回流爐前無(wú)氣源，電路板固定,，元件檢測(cè)為主,，連焊檢測(cè)為輔,。回流爐后使用,，需要?dú)庠?，電路板?dòng)，進(jìn)行元件,、焊點(diǎn),、連焊檢測(cè)?？杉嫒菀陨蟽身?xiàng)的檢測(cè),，無(wú)氣源，電路板固定不動(dòng),。貼片機(jī)生產(chǎn)線(xiàn)中AOI檢測(cè)設(shè)備的作用對(duì)于器件的檢測(cè),？

AOI的包含情況以及三種檢測(cè)方法一、AOI系統(tǒng)一般包含：1.照明系統(tǒng)2.光學(xué)透鏡3.CCD攝像系統(tǒng)4.檢測(cè)工作臺(tái)5.檢測(cè)程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識(shí)別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二,、三種檢測(cè)算法1.DRC檢測(cè)基本思想：DRC使用一套用戶(hù)設(shè)計(jì)的規(guī)則來(lái)檢測(cè)違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù),，所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷。規(guī)則包括：允許的較大較小線(xiàn)寬,、較大較小焊盤(pán)尺寸,、較小導(dǎo)體間距、所有線(xiàn)寬都必須以焊盤(pán)結(jié)束等,。檢測(cè)缺陷：毛刺,、鼠咬、線(xiàn)條,、間距,、焊盤(pán)尺寸違反等。2.特征比較基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征,，然后比較結(jié)果,，不同之處就是缺陷。檢測(cè)缺陷：開(kāi)路,，短路3.粗檢測(cè)缺陷基本思想：將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算,，得到圖像之間的不同。檢測(cè)缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤(pán)）早前的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備主要用于檢測(cè)IC（即集成電路）封裝之后的表面印刷是否存在缺陷,。韶關(guān)多功能AOI檢測(cè)設(shè)備值得推薦

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早期的時(shí)候AOI大多被拿來(lái)檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷,，隨著技術(shù)的演進(jìn),，現(xiàn)在則被拿來(lái)用在SMT組裝線(xiàn)上檢測(cè)電路板上的零件組裝(PCBAssembly)后的品質(zhì)狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn),。AOI比較大的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前爐后的人工目檢作業(yè),，而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn),。但就如同人眼一般，AOI基本上也只能執(zhí)行物件的表面檢查,，所以只要是物件表面上可以看得到的形狀,，它都可以正確無(wú)誤的檢查出來(lái)，但對(duì)于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能就有些力有未逮,，當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來(lái)增加其對(duì)于IC腳翹的檢出能力,，并增加某些被遮閉元件的攝影角度，以提供更多的檢出率,，但效果總是不盡理想,，難以達(dá)到100％的測(cè)試含蓋率。其實(shí),，AOI比較大的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,，也就比較容易出現(xiàn)誤判的情況，這些或許可以使用不同顏色的燈光來(lái)加以判別,，但較較麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn)，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測(cè)直射光線(xiàn)所能到達(dá)的地方,，像是屏閉框肋條或是其邊緣底下的元件,，往往就會(huì)因?yàn)锳OI檢測(cè)不到而漏了過(guò)去。東莞多功能AOI檢測(cè)設(shè)備