AOI的包含情況以及三種檢測(cè)方法一,、AOI系統(tǒng)一般包含：1.照明系統(tǒng)2.光學(xué)透鏡 CCD攝像系統(tǒng)4.檢測(cè)工作臺(tái)5.檢測(cè)程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識(shí)別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二,、三種檢測(cè)算法1.DRC檢測(cè)基本思想：DRC使用一套用戶設(shè)計(jì)的規(guī)則來(lái)檢測(cè)違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù)，所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷,。規(guī)則包括：允許的較大較小線寬,、較大較小焊盤(pán)尺寸、較小導(dǎo)體間距,、所有線寬都必須以焊盤(pán)結(jié)束等,。檢測(cè)缺陷：毛刺、鼠咬,、線條,、間距、焊盤(pán)尺寸違反等,。2.特征比較基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征,，然后比較結(jié)果，不同之處就是缺陷,。檢測(cè)缺陷：開(kāi)路,，短路3.粗檢測(cè)缺陷基本思想：將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算,，得到圖像之間的不同,。檢測(cè)缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤(pán)）雖然AOI檢測(cè)設(shè)備類型繁多，但廠家為了能夠達(dá)到更完善的檢測(cè),，大部分都選擇在線型AOI檢測(cè)設(shè)備,。深圳精密AOI檢測(cè)設(shè)備服務(wù)

AOI檢測(cè)發(fā)展歷程：1985年至1995年期間，我國(guó)的AOI由空白期逐漸衍生：我國(guó)引進(jìn)首臺(tái)貼片機(jī)后,，AOI檢測(cè)進(jìn)入起步階段,；1996年至2003年期間，以康耐德視覺(jué)為中心的企業(yè)開(kāi)啟AOI檢測(cè)設(shè)備的國(guó)內(nèi)生產(chǎn)制造的之路,；2004年至2010年期間,，我國(guó)進(jìn)入了AOI的快速發(fā)展期：AOI新技術(shù)不斷發(fā)展，國(guó)內(nèi)品牌開(kāi)始與國(guó)外品牌進(jìn)行戰(zhàn)略性合作,，不斷研制功能強(qiáng)勁的設(shè)備,。2011年后，我國(guó)AOI進(jìn)入人工智能化階段：伴隨著大數(shù)據(jù)、人工智能,、機(jī)器學(xué)習(xí)等新技術(shù)的不斷應(yīng)用,，AOI檢測(cè)不斷朝著智能化系統(tǒng)方向進(jìn)步。

江門(mén)全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備值得推薦AOI也就是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀,，包括自動(dòng)巡檢,、自動(dòng)報(bào)警、異常顯示等功能,，基本上能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化操作,。

二、AOI被應(yīng)用于電子元器件檢測(cè)時(shí)主要運(yùn)用在中下游領(lǐng)域AOI檢測(cè)目前階段主要對(duì)于PCB印刷電路板的光板,、錫膏印刷,、元件、焊后組件以及集成電路芯片的晶圓外觀,、2D/3D,、Bumping和IC封裝等領(lǐng)域開(kāi)展檢測(cè)。PCB印刷電路板：PCB光板檢測(cè),，錫膏印刷檢測(cè),，元件檢測(cè)，焊后組件檢測(cè)等,；集成電路芯片：晶圓外觀檢測(cè),、2D/3D檢測(cè)，Bumping檢測(cè),、IC封裝檢測(cè)等,；FPD平板顯示器：Mura缺陷檢測(cè)，Colorfilter檢測(cè),，PI檢測(cè),，LC液晶檢測(cè)，色度,、膜厚,、光學(xué)密度檢測(cè)LC液晶檢測(cè)，色度,、膜厚,、光學(xué)密度檢測(cè)；其他行業(yè)汽車(chē)電子檢測(cè),、MicroCrack檢測(cè)等,；

AOI就是自動(dòng)光學(xué)辨識(shí)系統(tǒng),是英文(AutoOpticalInspection)的縮寫(xiě)，國(guó)內(nèi)叫做自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀,，現(xiàn)在已經(jīng)普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的電路板組裝生產(chǎn)線的外觀檢查并取代以往的人工目檢,。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的基本原理是利用影像技術(shù)來(lái)比對(duì)待測(cè)物與標(biāo)準(zhǔn)影像是否有過(guò)大的差異來(lái)判斷待測(cè)物有否符合標(biāo)準(zhǔn)，所以AOI的好壞基本上也取決于其對(duì)影像的解析度、成像能力與影像辨析技術(shù),。早期時(shí)候AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備大多被拿來(lái)檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷,，隨著技術(shù)的演進(jìn)，現(xiàn)在則被拿來(lái)用在SMT組裝線上檢測(cè)電路板上的零件焊錫組裝后的品質(zhì)狀況,，或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn),。AOI檢測(cè)設(shè)備誤判的定義是什么呢？

AOI就是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),，也是SMT貼片加工中常用的檢測(cè)手段之一,，一般用于SMT貼片工序之后，主要是利用光學(xué)和數(shù)字成像技術(shù),，再采用計(jì)算機(jī)和軟件技術(shù)分析圖像和數(shù)據(jù)庫(kù)中合格的參數(shù)之間的區(qū)別來(lái)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)的一種技術(shù),。AOI檢測(cè)機(jī)能夠有效的檢測(cè)出缺件、錯(cuò)件,、壞件,、錫球、偏移,、側(cè)立,、立碑、反貼,、極反,、橋連、虛焊,、無(wú)焊錫,、少焊錫、多焊錫,、組件浮起,、IC引腳浮起、IC引腳彎曲等各種加工不良現(xiàn)象,。使用AOI可以減少人工投入的成本,，提高產(chǎn)品檢測(cè)率,，越來(lái)越多企業(yè)選擇機(jī)器代替人工目檢,。AOI是一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，它根據(jù)光學(xué)原理來(lái)檢測(cè)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷,。AOI檢測(cè)設(shè)備深圳廠家直銷價(jià)格

AOI的發(fā)展需求集成電路,。深圳精密AOI檢測(cè)設(shè)備服務(wù)

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種，因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器,。而CMOS采用了無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位,，無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),，而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過(guò)度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,，價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低,。但其非常明顯的缺點(diǎn)，作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,，靈敏度會(huì)有問(wèn)題,，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片,。深圳精密AOI檢測(cè)設(shè)備服務(wù)