B 絕緣性測試,。用萬用表R×10k擋分別測量鐵心與初級,，初級與各次級、鐵心與各次級,、靜電屏蔽層與衩次級,、次級各繞組間的電阻值，萬用表指針均應(yīng)指在無窮大位置不動,。否則,，說明變壓器絕緣性能不良。C 線圈通斷的檢測,。將萬用表置于R×1擋,，測試中，若某個繞組的電阻值為無窮大,，則說明此繞組有斷路性故障,。D 判別初、次級線圈,。電源變壓器初級引腳和次級引腳一般都是分別從兩側(cè)引出的,，并且初級繞組多標(biāo)有220V字樣，次級繞組則標(biāo)出額定電壓值,，如15V,、24V,、35V等。再根據(jù)這些標(biāo)記進行識別,。其余的那些被中文里叫做三極管的東西,，實際翻譯的時候是不可以翻譯成Triode的，否則就麻煩大咯,。蘇州新型電子元器件銷售供應(yīng)商家

11,、TCP (Tape Carrier Package)柔性線路板，IC可固定于其上12,、STN （Super Twisted Nematic）帶有約180度到270度扭曲向列的顯示類型13,、tf (Fall Time)響應(yīng)速度：下降沿時間14、TN (Twisted Nematic)帶有約90度扭曲向列的顯示類型15,、TNR (Tn With Retardation Film)一種彩色顯示,，它不采用彩色濾光片，而是在普通TN玻璃上附加上光程補償片16,、tr (Rise Time)響應(yīng)速度：上升沿時間17,、Vop (Operating Voltage)LCD驅(qū)動電壓18、Vth (Threshold Voltage)宜興新型電子元器件銷售廠家供應(yīng)一,、元件：工廠在加工時沒改變原材料分子成分的產(chǎn)品可稱為元件,。

B 將一光源對準(zhǔn)光敏電阻的透光窗口，此時萬用表的指針應(yīng)有較大幅度的擺動,，阻值明顯減些 此值越小說明光敏電阻性能越好,。若此值很大甚至無窮大，表明光敏電阻內(nèi)部開路損壞,，也不能再繼續(xù)使用,。C 將光敏電阻透光窗口對準(zhǔn)入射光線，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動,，使其間斷受光,，此時萬用表指針應(yīng)隨黑紙片的晃動而左右擺動。如果萬用表指針始終停在某一位置不隨紙片晃動而擺動,，說明光敏電阻的光敏材料已經(jīng)損壞,。電容器1 固定電容器的檢測

1954年，結(jié)型硅晶體管誕生,。此后,，人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想。隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù),、晶體外誕生長技術(shù)和擴散摻雜技術(shù),、耐壓氧化膜的制備技術(shù)、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),，電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時代。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)**的半導(dǎo)體工業(yè),。由于社會發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來越復(fù)雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性,、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化,、成本低等特點,。電容的特性主要是隔直流通交流。

自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,，由于材料技術(shù),、器件技術(shù)和電路設(shè)計等綜合技術(shù)的進步，在20世紀(jì)60年代研制成功了***代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義：它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術(shù)和計算機的進步,，使科學(xué)研究的各個領(lǐng)域以及工業(yè)社會的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。憑借優(yōu)越的科學(xué)技術(shù)所發(fā)明的集成電路使研究者有了更先進的工具，進而產(chǎn)生了許多更為先進的技術(shù),。這些先進的技術(shù)有進一步促使更高性能,、更廉價的集成電路的出現(xiàn)。對電子器件來說,，體積越小,，集成度越高；響應(yīng)時間越短,，計算處理的速度就越快,；傳送頻率就越高，傳送的信息量就越大,。半導(dǎo)體工業(yè)和半導(dǎo)體技術(shù)被稱為現(xiàn)代工業(yè)的基礎(chǔ),，同時也已經(jīng)發(fā)展稱為一個相對**的高科技產(chǎn)業(yè)。 [1電容在電路中一般用"C"加數(shù)字表示(如C13表示編號為13的電容),。徐州優(yōu)勢電子元器件銷售客服電話

電容的基本單位用法拉(F)表示,，其它單位還有：毫法(mF)、微法(uF),、納法(nF),、皮法(pF)。蘇州新型電子元器件銷售供應(yīng)商家

A 檢測10pF以下的小電容 因10pF以下的固定電容器容量太小,，用萬用表進行測量,，只能定性的檢查其是否有漏電,，內(nèi)部短路或擊穿現(xiàn)象。測量時,，可選用萬用表R×10k擋,，用兩表筆分別任意接電容的兩個引腳，阻值應(yīng)為無窮大,。若測出阻值(指針向右擺動)為零,，則說明電容漏電損壞或內(nèi)部擊穿。B 檢測10pF～0.01μF固定電容器是否有充電現(xiàn)象,，進而判斷其好壞,。萬用表選用R×1k擋。兩只三極管的β值均為100以上,，且穿透電流要選用3DG6等型號硅三極管組成復(fù)合管,。萬用表的紅和黑表筆分別與復(fù)合管的發(fā)射極e和集電極c相接。由于復(fù)合三極管的放大作用,，把被測電容的充放電過程予以放大,，使萬用表指針擺幅度加大，從而便于觀察,。應(yīng)注意的是：在測試操作時,，特別是在測較小容量的電容時，要反復(fù)調(diào)換被測電容引腳接觸A,、B兩點,，才能明顯地看到萬用表指針的擺動。蘇州新型電子元器件銷售供應(yīng)商家

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