殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。

使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。

定性相分析：候選材料鑒別（PMI） 為常見，這是因?yàn)槠鋵υ咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。

高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。

非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。

小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2 R 500K通過2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。 在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進(jìn)行XRR分析,，測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度,。湖南布魯克XRD衍射儀零售價(jià)格

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合,，它都是您的可選的探測器：高的計(jì)數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率，峰位精度布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM 1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證,，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì),，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無需人工干預(yù),，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末,、塊狀物體、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。廣東微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀用戶體驗(yàn)X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析,。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無損表征的重要方法,。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：

掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定，包括微晶尺寸和應(yīng)變,。

X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息。

高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度,、應(yīng)變,、弛豫、鑲嵌,、混合晶體的成分分析,。

應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜。D8 DISCOVER 特點(diǎn)：UMC樣品臺可對重達(dá)5 kg的樣品進(jìn)行掃描,、大區(qū)域映射300mm的樣品、高通量篩選支持三個(gè)孔板,。

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,，該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個(gè)角度范圍內(nèi),，保證實(shí)現(xiàn)儀器對準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）,。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗(yàn)證協(xié)議，它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8 ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。BRUKERXRD衍射儀共同合作

MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測器完全兼容,。湖南布魯克XRD衍射儀零售價(jià)格

X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8 ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。湖南布魯克XRD衍射儀零售價(jià)格

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602-1室,。公司自成立以來，以質(zhì)量為發(fā)展,，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié),，公司旗下布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2深受客戶的喜愛。公司注重以質(zhì)量為中心,，以服務(wù)為理念,，秉持誠信為本的理念，打造儀器儀表良好品牌,。束蘊(yùn)儀器立足于全國市場,，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念,，飛快響應(yīng)客戶的變化需求,。