D8 DISCOVER特點：微焦源IμS

配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。

1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景

2.綠色環(huán)保設(shè)計：低功耗、無耗水,、使用壽命延長

3.MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度

4.與布魯克大量組件,、光學器件和探測器完全兼容。

5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源，用于產(chǎn)生X射線,。

6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管，可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑,。

7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù),，可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑。

8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量，而功耗卻很低,。

9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑,、點焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量。

10.**性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù),，可提供無出其右的X射線光源亮度,。

11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量，適用于D8DISCOVERPlus,。

12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學元件,，可高效捕獲X射線，并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束,。 D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量。江蘇進口XRD衍射儀推薦咨詢

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。湖北BRUKERXRD衍射儀什么價格該X射線源有6kW的功率，其強度是標準陶瓷射線管5倍,，在線焦點和點焦點應(yīng)用中均具有出色的性能,。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計,，十分便于移動,，您無需準備復雜的基礎(chǔ)框架、大而笨重的工作臺,，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準備標準的電源插座，然后花費幾分鐘的時間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度。

波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學性能,，比如凝結(jié)性能和強度變化等,，不光是由化學組成所決定的，而主要是由其礦物組成所決定的,。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合,?？梢源_定孰料中的C3S、C2S,、C3A、C4AF等主要礦相的含量,，還可以得到C3S,、C2S、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量,。安裝在標準陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換，無需認為干預,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。D8 DISCOVER 特點：UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描,、大區(qū)域映射300mm的樣品,、高通量篩選支持三個孔板。廣州BRUKERXRD衍射儀單價

候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。江蘇進口XRD衍射儀推薦咨詢

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變，進而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。江蘇進口XRD衍射儀推薦咨詢

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