D8 DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究

殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性，是 重要的材料研究工具之一,。D8 DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8 DISCOVER配備了技術(shù)超過(guò)的組件,，可為您帶來(lái)較好的性能和充分的靈活性,，同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：

定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定

微米應(yīng)變和微晶尺寸分析

應(yīng)力和織構(gòu)分析

粒度和粒度分布測(cè)定

使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析

倒易空間掃描 使用D8D，您將能在原位循環(huán)條件下測(cè)試電池材料,，直截了當(dāng)?shù)孬@取不斷變化的儲(chǔ)能材料和晶體結(jié)構(gòu)和相位信息,。點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀調(diào)整

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。

使用了2D檢測(cè)器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過(guò)積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描,，來(lái)進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。

定性相分析：候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。

高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度。

非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。

小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2 R 500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。 湖北BRUKERXRD衍射儀檢測(cè)卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用,，如應(yīng)力、織構(gòu)和外延膜分析,，包括在非環(huán)境條件下,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜,。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來(lái)表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距，nm,。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距,，nm。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范，用硅作為內(nèi)標(biāo)物,，加入待測(cè)石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來(lái)鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過(guò)煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來(lái)獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。利用布魯克樣品臺(tái),，能精確地操縱樣品。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺(tái)和落地式樣品臺(tái),。

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T,。LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。UMCy樣品臺(tái)在樣品重量和大小方面具有獨(dú)特的承載能力,。江蘇布魯克XRD衍射儀售價(jià)

D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持，包括結(jié)構(gòu)測(cè)定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試。點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀調(diào)整

EIGER2 R 具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬(wàn)金油,，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的**,。其可實(shí)現(xiàn)無(wú)吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過(guò)500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測(cè)器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS 公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù)，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來(lái)無(wú)縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8 ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀調(diào)整

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602-1室,。公司業(yè)務(wù)涵蓋布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2等,，價(jià)格合理，品質(zhì)有保證,。公司從事儀器儀表多年,，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù),，還有一批專業(yè)化的隊(duì)伍,，確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。束蘊(yùn)儀器憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品,、專業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來(lái)的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高,。