RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,,導致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1),。另外,如果衍射簡單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無法利用整個樣品的體積,衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點說明:GID需要硬件配置;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,,不適合單晶外延膜,。在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,,以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度,。浙江授權代理商XRD衍射儀創(chuàng)新服務
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結(jié)構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。半導體與微電子:從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結(jié)構表征,。制藥業(yè)篩選:新結(jié)構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,,對此,D8D具有高通量篩選功能,。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,直接了當?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構和相組方面的信息,。江西授權代理商XRD衍射儀檢測總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF)、小角X射線散射(SAXS),。
藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結(jié)構測定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學:D8D是地質(zhì)構造研究的理想之選,。借助μXRD,,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結(jié)構測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技術中,。殘余奧氏體,、殘余應力和織構檢測不過是其中的一小部分,檢測目的在于確保終產(chǎn)品復合終用戶的需求,。薄膜計量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛的一系列技術,。
布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準,。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,,可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時,。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有準確的計數(shù)率和角分辨率,,是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇,。UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應用和涂層分析,也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗,。
XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關系的結(jié)構參數(shù),。有時,可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,,裂紋,,發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,,測量結(jié)晶度的方法包括密度,,熱分析,NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值:根據(jù)應用需求,調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動對光。浙江授權代理商XRD衍射儀選哪家好
在DIFFRAC.LEPTOS中,,使用sin2psi法,,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析,。浙江授權代理商XRD衍射儀創(chuàng)新服務
獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,,該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,,可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預,,即可在三個光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析,其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜(非晶,、多晶和外延),。浙江授權代理商XRD衍射儀創(chuàng)新服務
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