那么,碳晶體的晶胞參數可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內標以校準,。本文根據QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內標物,，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一,。PATHFINDERPlus光學器件有一個確保測得強度的線性的自動吸收器，并可在以下之間切換：電動狹縫,，分光晶體,。物相定量分析XRD衍射儀單價

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本，是面向多用途,、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求，包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換。您只需按下按鈕,，整個軟件盡在掌握,。湖北原位分析XRD衍射儀什么價格XRD可研究材料的結構和物理特性，是 重要的材料研究工具之一,。

X射線粉末衍射（XRPD）技術是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析（微晶尺寸,、微應變,、無序…）熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構（擇優(yōu)取向）分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,，由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式），覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應用領域的**。其可實現無吸收測量的動態(tài)范圍,、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測器樹立了新標準。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術,，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。新結構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,，對此，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力,。湖南檢測XRD衍射儀

D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射、X射線反射率測量,。物相定量分析XRD衍射儀單價

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