多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準(zhǔn)直，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。對較大300 mm的樣品進(jìn)行掃描、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動化接口,。上海授權(quán)代理商XRD衍射儀售價

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu)，具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容,，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性，有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,，因此在催化、分離,、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián)，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度，這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號,。目前,，隨著衍射儀的發(fā)展，動態(tài)光路對的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題,。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜，五個衍射峰分別對應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300),、(220),。根據(jù)圖2示意圖，計(jì)算得到平均孔距湖南授權(quán)代理商XRD衍射儀銷售廠家殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）,。

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理,，就會產(chǎn)生揚(yáng)塵，污染大氣,；若排入水系會造成河流淤塞,，而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點(diǎn),。比如，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰,，則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài),。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計(jì)算非晶相物質(zhì)的含量。在實(shí)驗(yàn)室中這個方法是可行的,，但在實(shí)際生產(chǎn)和快速檢測過程中,，這個方法就現(xiàn)實(shí)。目前一種全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*,，解決了這一難題,，實(shí)現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標(biāo)樣定量分析。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,，nm；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm,。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距，nm,。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn)。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物,，加入待測石墨樣品中，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn)，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一?？稍跀?shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn)，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時間,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù),。四川授權(quán)代理商XRD衍射儀

支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺和多模式探測器,。上海授權(quán)代理商XRD衍射儀售價

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時,，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常，測量結(jié)晶度的方法包括密度，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：上海授權(quán)代理商XRD衍射儀售價

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