XRD檢測聚合物結晶度測定引言聚合物的結晶度是與其物理性質有很大關系的結構參數,。有時,，可以通過評估結晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,，測量結晶度的方法包括密度,，熱分析，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結晶度的方法的說明以及實例,。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2 R 500K通過2D模式手機的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進行粒度分析。深圳購買XRD衍射儀技術指導

對分布函數（PDF）分析是一種分析技術，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結構信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序）,，通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）。就分析速度,、數據質量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。江西BRUKERXRD衍射儀選哪家好LYNXEYE XE-T主要用于0D,、1D和2D數據采集，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時不會損失二級單色器信號,。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結構性質測定，包括微晶尺寸和應變,。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結構信息。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結構：層厚度、應變,、弛豫,、鑲嵌、混合晶體的成分分析,。應力和織構（擇優(yōu)取向）分析。

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質不活潑,，且具有高熔點、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數等獨特的物理化學性質,，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結構主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相,。不同晶體結構對應的物理化學性質有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進行快速定量分析,。實例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯在DIFFRAC.EVA中,，對塑料薄膜進行WAXS測量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質量,、殘余應力,、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物?？装搴统练e樣品在反射和透射中的高通量篩選,。深圳授權代理商XRD衍射儀成本價

D8D對地質構造研究，借助μXRD,，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結構測定都不在話下,。深圳購買XRD衍射儀技術指導

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