薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是**用戶,，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,?？偵⑸浞治觯築ragg衍射、對(duì)分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）,。上海全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本，是面向多用途,、多用戶實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺(tái),。它可理想地滿足您對(duì)所有樣品類型的需求，包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢(shì)在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換。您只需按下按鈕,，整個(gè)軟件盡在掌握,。廣東進(jìn)口XRD衍射儀價(jià)格在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2 R 500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無(wú)損檢測(cè)手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是**用戶，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過(guò)的組件，可為您帶來(lái)較好的性能和充分的靈活性,，同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測(cè)器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切換以及探測(cè)器位置可連續(xù)變化,、支持自動(dòng)對(duì)光,。

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對(duì)稱性很差時(shí)，如圖2,，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,，也可能是由于非晶碳或無(wú)定形碳的存在。需要對(duì)衍射峰進(jìn)行分峰處理,，得到各個(gè)子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,，如圖2所示。分別計(jì)算各子峰的石墨化度,，再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,，歸一化樣品的石墨化度。圖2石墨實(shí)驗(yàn)（藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn)）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結(jié)果）石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn)，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來(lái)鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過(guò)煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來(lái)獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益，用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù)。檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀創(chuàng)新服務(wù)

從過(guò)程開(kāi)發(fā)到質(zhì)量控制，D8 DISCOVER可以對(duì)亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。上海全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過(guò)程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來(lái)源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問(wèn)題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒(méi)有代表性的測(cè)量結(jié)果,。運(yùn)營(yíng)成本低不消耗水硅條帶探測(cè)器技術(shù),，無(wú)需使用探測(cè)器氣體近乎無(wú)限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作，不斷改進(jìn)其分析解決方案,。在D2PHASER方面,，我們針對(duì)水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包，其中包括針對(duì)10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)營(yíng),。對(duì)于每天需要測(cè)量大量樣品的大型工廠，請(qǐng)參見(jiàn)D8ENDEAVOR,。上海全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司是以提供布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2為主的有限責(zé)任公司（自然）,，公司位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602-1室，成立于2016-09-23,，迄今已經(jīng)成長(zhǎng)為儀器儀表行業(yè)內(nèi)同類型企業(yè)的佼佼者,。束蘊(yùn)儀器以布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2為主業(yè)，服務(wù)于儀器儀表等領(lǐng)域,，為全國(guó)客戶提供先進(jìn)布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2,。束蘊(yùn)儀器將以精良的技術(shù)、優(yōu)異的產(chǎn)品性能和完善的售后服務(wù),，滿足國(guó)內(nèi)外廣大客戶的需求,。