薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是**用戶，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。憑借RapidRSM技術(shù)，能在 短的時(shí)間內(nèi),，測(cè)量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中，進(jìn)行倒易點(diǎn)陣轉(zhuǎn)換和分析,。湖北全新XRD衍射儀推薦咨詢

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無(wú)損檢測(cè)手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是**用戶，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。珠海進(jìn)口XRD衍射儀共同合作全能運(yùn)動(dòng)概念確保當(dāng)樣品在移動(dòng)時(shí)，感興趣區(qū)域始終在測(cè)角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個(gè)自由度。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對(duì)臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),，十分便于移動(dòng)，您無(wú)需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái),，也無(wú)需供應(yīng)商前來(lái)安裝和調(diào)整，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過(guò)程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測(cè)器，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會(huì)明顯降低檢測(cè)速度。

藥用滑石粉中石棉的測(cè)定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,?；塾糜卺t(yī)藥、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過(guò)程中,，常伴生有其他礦石，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì),。而根據(jù)中國(guó)藥典，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”,。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無(wú)論是新手用戶還是**用戶,，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實(shí)驗(yàn)室X射線衍射的2D檢測(cè)器。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。使用了2D檢測(cè)器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過(guò)積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描，來(lái)進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見(jiàn),，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對(duì)EIGER2R500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本，可通過(guò)使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測(cè)角儀還是ATLAS測(cè)角儀進(jìn)行區(qū)分,。XRD衍射儀哪里好

利用布魯克樣品臺(tái),，能精確地操縱樣品。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺(tái)和落地式樣品臺(tái),。湖北全新XRD衍射儀推薦咨詢

制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過(guò)程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過(guò)溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過(guò)程，在此過(guò)程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國(guó)內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過(guò)程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測(cè)更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器，為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具,。湖北全新XRD衍射儀推薦咨詢

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