藥物:從藥物發(fā)現到藥物生產,,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,,其中包括結構測定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。地質學:D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD,,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下,。金屬:在常見的金屬樣品檢測技術中。殘余奧氏體,、殘余應力和織構檢測不過是其中的一小部分,,檢測目的在于確保終產品復合終用戶的需求。薄膜計量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應變松弛的一系列技術。從過程開發(fā)到質量控制,,D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征,。江西點陣參數精確測量XRD衍射儀調整
D8DISCOVER應用范圍材料研究殘余應力分析、織構和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結構和物理特性,是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8DISCOVER配備了技術超過的組件,,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,,同時讓研究人員對材料進行細致入微的表征:定性相分析和結構測定微米應變和微晶尺寸分析應力和織構分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進行局部XRD分析倒易空間掃描上海進口XRD衍射儀調整對較大300 mm的樣品進行掃描、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動化接口,。
XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,,一般Cu靶為1.54埃K:常數(晶粒近似為球形,,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,,將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設計
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,,這遠遠大于薄膜的厚度,,導致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1)。另外,,如果衍射簡單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,無法利用整個樣品的體積,,衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時增加衍射顆粒的數目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明:GID需要硬件配置,;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,,不適合單晶外延膜。該X射線源有6kW的功率,,其強度是標準陶瓷射線管5倍,,在線焦點和點焦點應用中均具有出色的性能。
藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進而可能影響到藥物的療效,。國內外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質應該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進檢測器,,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。可在數秒內,,輕松從先焦點切換到點焦點,,從而擴大應用范圍,同事縮短重新匹配的時間,。江西點陣參數精確測量XRD衍射儀調整
這種X射線源可提供高亮度光束,,對mm大小的樣品研究,或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。江西點陣參數精確測量XRD衍射儀調整
D2PHASER所具備的數據質量和數據采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設計,十分便于移動,,您無需準備復雜的基礎框架,、大而笨重的工作臺,也無需供應商前來安裝和調整,,只需準備標準的電源插座,,然后花費幾分鐘的時間,即可完成從拆包到獲得分析結果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,,已然成為同類更好的選擇!小于380eV的能量分辨率使其支持的數字單色器模式,,可有效去除——不必要的輻射,,如樣品熒光,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,,而不會明顯降低檢測速度,。江西點陣參數精確測量XRD衍射儀調整
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