D8DISCOVER特點(diǎn)：微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計(jì)：低功耗、無(wú)耗水,、使用壽命延長(zhǎng)3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測(cè)器完全兼容。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,，用于產(chǎn)生X射線,。6.工業(yè)級(jí)金屬陶瓷密封管，可實(shí)現(xiàn)線焦斑或點(diǎn)焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù),，可快速簡(jiǎn)便地切換線焦斑和點(diǎn)焦斑。8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量,，而功耗卻很低,。9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極可為線焦斑、點(diǎn)焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù),，可提供無(wú)出其右的X射線光源亮度。11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點(diǎn)焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,，適用于D8DISCOVERPlus,。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件，可高效捕獲X射線,，并將之轉(zhuǎn)化為針對(duì)您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束,。D8D在金屬樣品檢測(cè)中，殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。安徽布魯克XRD衍射儀

XRD檢測(cè)納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān)，而X射線衍射是測(cè)定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個(gè)完整小單晶的大小)可通過(guò)謝樂(lè)公示計(jì)算Dhkl：晶粒尺寸,，垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬（或展寬）θ：hkl晶面的bragg角度λ：入射X光的波長(zhǎng)，一般Cu靶為1.54埃K：常數(shù)（晶粒近似為球形,，K=0.89,；其他K=1）ADVANCE采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí)，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)浙江進(jìn)口XRD衍射儀技術(shù)指導(dǎo)在DIFFRAC.TEXTURE中，使用球諧函數(shù)和分量方法,，生成極圖,、取向分布函數(shù)（ODF）和體積定量分析。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實(shí)出色,，是市面上性能的熒光過(guò)濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它,，您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過(guò)濾,，而且無(wú)需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無(wú)需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器,。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測(cè)器保證：交貨時(shí)保證無(wú)壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性，是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過(guò)的組件，可為您帶來(lái)較好的性能和充分的靈活性,，同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析,。

X射線反射率測(cè)定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù),，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具。通過(guò)分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)。XRR的特點(diǎn)：1無(wú)損檢測(cè)2對(duì)樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒(méi)有要求,，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測(cè)試3XRR適用于納米薄膜，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過(guò)5nm5多層膜之間要求有密度差D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,，包括結(jié)構(gòu)測(cè)定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試。北京XRD衍射儀檢測(cè)

無(wú)論面對(duì)何種應(yīng)用,，DIFFRAC.DAVINCI都會(huì)指引用戶選擇較好的儀器配置,。安徽布魯克XRD衍射儀

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜,。安徽布魯克XRD衍射儀

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司是一家儀器儀表，實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,，機(jī)械設(shè)備及配件,，機(jī)電設(shè)備及配件，電子產(chǎn)品,，化工原料及產(chǎn)品（除危險(xiǎn)化學(xué)品,，監(jiān)控化學(xué)品，易制毒化學(xué)品）,，一般勞防用品,，玻璃制品的批發(fā)、零售,，從事儀表科技,，機(jī)械科技，機(jī)電科技,，電子科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā),，技術(shù)咨詢，技術(shù)轉(zhuǎn)讓,，技術(shù)服務(wù),，儀表儀器的維修，零售,，自有設(shè)備租賃,，設(shè)計(jì)、制作各類廣告,，電子商務(wù)（不得從事金融業(yè)務(wù)）,，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)的公司，是一家集研發(fā),、設(shè)計(jì),、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。束蘊(yùn)儀器深耕行業(yè)多年,，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提供高質(zhì)量的布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2。束蘊(yùn)儀器始終以本分踏實(shí)的精神和必勝的信念,，影響并帶動(dòng)團(tuán)隊(duì)取得成功,。束蘊(yùn)儀器始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代,，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠,，高度的專注與執(zhí)著使束蘊(yùn)儀器在行業(yè)的從容而自信,。