EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式），覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的**。其可實(shí)現(xiàn)無吸收測量的動(dòng)態(tài)范圍,、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù)，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。而有了UMC樣品臺的加持,，D8 DISCOVER更是成為了電動(dòng)位移和重量能力方面的同類較好,。廣東進(jìn)口XRD衍射儀配件

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D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景，該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個(gè)角度范圍內(nèi)，保證實(shí)現(xiàn)儀器對準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）,。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗(yàn)證協(xié)議,，它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

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薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。X射線反射法、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析。湖南微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀檢測

可在數(shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍，同事縮短重新匹配的時(shí)間,。廣東進(jìn)口XRD衍射儀配件

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。廣東進(jìn)口XRD衍射儀配件

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