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廣東點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

來源: 發(fā)布時間:2023-05-15

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合,,它都是值得您選擇的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內(nèi)的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)利用布魯克樣品臺,,能精確地操縱樣品。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺,。廣東點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

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薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,,不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。浙江點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件在DIFFRAC.LEPTOS中,,對多層樣品進行XRR分析,測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。

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材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,;緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,,Psi傾斜度在-5°到95°之間,可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外,它還具有真空多用途通孔,,可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,,將樣品固定在適當位置。二者均可用于溫控樣品臺,,進行非環(huán)境分析,。另外,它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),,輕松更換樣品臺,。

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,應(yīng)使用“優(yōu)勢藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,,以保證藥品臨床有效性,、安全性與質(zhì)量可控性。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視,。晶型,,特別是API晶型對藥物的功能有直接關(guān)心,同一API的不同晶型在溶解度,、熔點,、溶出度、生物有效性等方便可能會有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對此,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。

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D8測角儀巨有市場超前地精確度,,為布魯克獨有的準直保證奠定了基礎(chǔ),。廣東點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

X射線反射率測定引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)是一種表面表征技術(shù),是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點:1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,,不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進行測試3XRR適用于納米薄膜,,要求厚度小于500nm4晶面膜,,表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差廣東點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

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