藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,。滑石粉用于醫(yī)藥,、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中，常伴生有其他礦石,，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì)。而根據(jù)中國藥典,，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器,。福建進口XRD衍射儀

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析。另外,，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺。珠海全新XRD衍射儀推薦咨詢全能運動概念確保當樣品在移動時,，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜，有5個自由度,。

由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時,。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進行XRR分析,，測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度,。四川檢測XRD衍射儀

樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺，較大限度地提高實驗靈活性,。福建進口XRD衍射儀

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。福建進口XRD衍射儀