制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進檢測器，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺,，較大限度地提高實驗靈活性。江蘇布魯克XRD衍射儀

波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能,，比如凝結(jié)性能和強度變化等,，不光是由化學(xué)組成所決定的,，而主要是由其礦物組成所決定的。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點是眾所周知的,。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合?？梢源_定孰料中的C3S,、C2S、C3A,、C4AF等主要礦相的含量,，還可以得到C3S、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量,。江蘇BRUKERXRD衍射儀利用布魯克樣品臺，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺,。

石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數(shù),石墨化度就愈高,。

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應(yīng)力、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外,，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺，將樣品固定在適當(dāng)位置,。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺。支持全新技術(shù)進行定制,，包括高性能X射線源,、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器,。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計，十分便于移動,，您無需準備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準備標準的電源插座,，然后花費幾分鐘的時間，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度,。這種X射線源可提供高亮度光束，對mm大小的樣品研究,，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。湖南點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀哪里好

定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析,。江蘇布魯克XRD衍射儀

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi)。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。江蘇布魯克XRD衍射儀

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