BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結(jié)果,。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù),，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作,，不斷改進其分析解決方案,。在D2PHASER方面，我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包,，其中包括針對10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測量和數(shù)據(jù)評估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學,。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠，請參見D8ENDEAVOR,。候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。廣州物相定量分析XRD衍射儀配件

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。湖北物相定量分析XRD衍射儀配件支持全新技術(shù)進行定制，包括高性能X射線源,、定制版光學器件,、定制版樣品臺和多模式探測器。

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍,、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍，都為多模式探測器樹立了新標準,。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù),，整合了布魯克的軟件和硬件，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。涉及高通量篩選（HTS）和大區(qū)域掃描分析時，D8 DISCOVER是較好解決方案,。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定，包括微晶尺寸和應(yīng)變,。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度,、應(yīng)變,、弛豫、鑲嵌,、混合晶體的成分分析,。應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進行XRR分析,。湖北物相定量分析XRD衍射儀配件

D8 DISCOVER系列是市面上準確、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案,。廣州物相定量分析XRD衍射儀配件

淀粉結(jié)晶度測定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個重要參數(shù),，也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù)，其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應(yīng)用性能,、淀粉材料的物理和機械性能,。X射線衍射法（XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值。采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計廣州物相定量分析XRD衍射儀配件