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來源: 發(fā)布時間:2023-10-16

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進檢測器,,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。在DIFFRAC.LEPTOS中,,使用sin2psi法,,用Cr輻射進行測量,對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進行分析,。BRUKERXRD衍射儀配件

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納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證,。目前,在峰位,、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。上海薄膜略入射測試檢測分析總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)。

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對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),,通過漫散射,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具、免準直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證,。目前,在峰位、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析,。

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D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,,適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性,。面對新應(yīng)用,,您隨時都能對它輕松完成升級,從而適應(yīng)未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(shù)(PDF)分析候選材料鑒別(PMI) 為常見,,這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,,而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。湖北布魯克XRD衍射儀配件

EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器,。BRUKERXRD衍射儀配件

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,,是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,,包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)X射線反射率(XRR)和高分辨XRD(搖擺曲線,,倒易空間掃描)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換:從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,整個軟件盡在掌握,。BRUKERXRD衍射儀配件