X射線(xiàn)粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見(jiàn)的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相，并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無(wú)序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE。在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行晶片分析：分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性,。南京共格檢測(cè)分析

X射線(xiàn)反射率測(cè)定引言X射線(xiàn)反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù)，是利用X射線(xiàn)在不同物質(zhì)表面或界面的反射線(xiàn)之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過(guò)分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)。XRR的特點(diǎn)：1無(wú)損檢測(cè)2對(duì)樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒(méi)有要求,，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測(cè)試3XRR適用于納米薄膜，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過(guò)5nm5多層膜之間要求有密度差南京共格檢測(cè)分析UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品,、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析，也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn),。

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線(xiàn)衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹(shù)立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線(xiàn)衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。

X射線(xiàn)衍射（XRD）和反射率是對(duì)薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無(wú)損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見(jiàn)的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識(shí)別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測(cè)定,，包括微晶尺寸和應(yīng)變,。X射線(xiàn)反射率測(cè)量（XRR）：用于提取從簡(jiǎn)單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線(xiàn)衍射（HRXRD）：用于分析外延生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)：層厚度,、應(yīng)變、弛豫,、鑲嵌,、混合晶體的成分分析。應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測(cè)器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切換以及探測(cè)器位置可連續(xù)變化,、支持自動(dòng)對(duì)光,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線(xiàn)反射法高分辨率X射線(xiàn)衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。蘇州織構(gòu)檢測(cè)分析

在DIFFRAC.EVA中,，對(duì)塑料薄膜進(jìn)行WAXS測(cè)量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見(jiàn)了。南京共格檢測(cè)分析

石油和天然氣D2PHASER是一種移動(dòng)式的臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀（XRD）,，可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外，X射線(xiàn)衍射（XRD）是分析頁(yè)巖層所必不可少的技術(shù),，可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線(xiàn)衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER識(shí)別膨脹性粘土（PDF）X射線(xiàn)衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER對(duì)頁(yè)巖層進(jìn)行井場(chǎng)礦物學(xué)分析（PDF）無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù)，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。南京共格檢測(cè)分析