D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),，十分便于移動(dòng)，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái),，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射，而不會(huì)明顯降低檢測速度,。殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）,。進(jìn)口XRD衍射儀檢測

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序），通過漫散射,，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,，包括結(jié)構(gòu)測定,、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),，具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,，有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,，因此在催化,、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,，這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號(hào)。目前,，隨著衍射儀的發(fā)展,，動(dòng)態(tài)光路對的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜,，五個(gè)衍射峰分別對應(yīng)(100),、(110)、(200),、(300),、(220)。根據(jù)圖2示意圖,，計(jì)算得到平均孔距

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進(jìn)檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量,。

不論您的預(yù)算如何，D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求,，其運(yùn)營成本降低。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,，同時(shí)布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證,。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本，無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證：D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證：測角儀采用免維護(hù)的堅(jiān)固設(shè)計(jì),，可為您帶來機(jī)械強(qiáng)度和較長的使用壽命,，因此能夠?yàn)槟峁┖玫臄?shù)據(jù)質(zhì)量。其中,，布魯克提供10年保修,。儀器準(zhǔn)直保證探測器質(zhì)量保證在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品進(jìn)行XRR分析,，測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度。浙江布魯克XRD衍射儀哪里好

候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因?yàn)閷ζ湓咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。進(jìn)口XRD衍射儀檢測

X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù),，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn)：1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差進(jìn)口XRD衍射儀檢測