RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試,，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個(gè)樣品的體積，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明：GID需要硬件配置；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜,。可在數(shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時(shí)間。湖南BRUKERXRD衍射儀檢測(cè)

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實(shí)現(xiàn)無吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測(cè)器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù)，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。深圳BRUKERXRD衍射儀D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測(cè)量,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外,，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。D8 DISCOVER配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供更大強(qiáng)度小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑，且具有高熔點(diǎn),、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對(duì)二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析,。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯利用布魯克樣品臺(tái)，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺(tái)和落地式樣品臺(tái),。深圳BRUKERXRD衍射儀檢測(cè)

在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2 R 500K通過2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。湖南BRUKERXRD衍射儀檢測(cè)

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對(duì)稱性很差時(shí),，如圖2，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對(duì)衍射峰進(jìn)行分峰處理，得到各個(gè)子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,，如圖2所示,。分別計(jì)算各子峰的石墨化度，再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,，歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實(shí)驗(yàn)（藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn)）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜，兩綠色為單峰擬合結(jié)果）石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。湖南BRUKERXRD衍射儀檢測(cè)