當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對(duì)稱性很差時(shí),，如圖2,，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對(duì)衍射峰進(jìn)行分峰處理,，得到各個(gè)子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,，如圖2所示。分別計(jì)算各子峰的石墨化度,，再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,，歸一化樣品的石墨化度。圖2石墨實(shí)驗(yàn)（藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn)）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結(jié)果）石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn)，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺(tái)和多模式探測器,。杭州失配檢測分析

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進(jìn)檢測器，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。廣東購買XRD衍射儀UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應(yīng)用和涂層分析，也能測量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn),。

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),，D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持，其中包括結(jié)構(gòu)測定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學(xué)：D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD,，哪怕是對(duì)小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中,。殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分，檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求,。薄膜計(jì)量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,，其應(yīng)用范圍、數(shù)據(jù)質(zhì)量、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,，適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來的所有靈活性,。面對(duì)新應(yīng)用，您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),，從而適應(yīng)未來實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求：相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線反射分析（XRR）小角X射線散射（SAXS）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合，它都是您的可選的探測器：高的計(jì)數(shù)率,、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì),，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡化了D8ADVANCE的操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無需人工干預(yù),，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末,、塊狀物體、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇?？稍跀?shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn)，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時(shí)間,。珠海全新XRD衍射儀檢測

MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度，與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容,。杭州失配檢測分析

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。杭州失配檢測分析