D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計,，十分便于移動,，您無需準備復雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準備標準的電源插座,，然后花費幾分鐘的時間，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度,。在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品進行XRR分析,，測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度。廣州點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀推薦咨詢

由于具有出色的適應(yīng)能力,，*使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。江西點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀哪里好X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析,。

汽車和航空航天：配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機械零件進行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。半導體與微電子：從過程開發(fā)到質(zhì)量控制，D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選：新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟，對此,，D8D具有高通量篩選功能,。儲能/電池：使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料，直接了當?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息,。

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應(yīng)用場合,，它都是值得您選擇的探測器：高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）安裝在標準陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,，無需認為干預。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,，您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100％過濾,，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強度的二級單色器,。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準確的計數(shù)率和角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。支持全新技術(shù)進行定制,，包括高性能X射線源、定制版光學器件,、定制版樣品臺和多模式探測器,。廣州點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀推薦咨詢

在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進行分析。廣州點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀推薦咨詢

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。廣州點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀推薦咨詢