納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。合肥結(jié)晶度檢測分析

藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,?；塾糜卺t(yī)藥、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中,，常伴生有其他礦石，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì),。而根據(jù)中國藥典，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”,。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。珠海布魯克XRD衍射儀哪里好更換光學(xué)期間時,，無需工具，亦無需對光，因此您可輕松快速地更改配置,。

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理，就會產(chǎn)生揚塵,，污染大氣,；若排入水系會造成河流淤塞，而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害,。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點。比如,，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰，則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解,。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的,，但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中，這個方法就現(xiàn)實,。目前一種全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*,，解決了這一難題，實現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標(biāo)樣定量分析,。

D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,，其能耗極低，無需外設(shè)水冷,，對實驗室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求,。您只需準(zhǔn)備家用壁式插座即可。因此,，您將能簡單快捷地完成安裝和定位,。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至,。插件分析：無需外設(shè)水冷：每年可節(jié)約高達(dá)1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應(yīng)用和涂層分析,，也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一,。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。而有了UMC樣品臺的加持，D8 DISCOVER更是成為了電動位移和重量能力方面的同類較好。杭州x射線衍射檢測分析

利用布魯克樣品臺,，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。合肥結(jié)晶度檢測分析

石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數(shù),石墨化度就愈高,。合肥結(jié)晶度檢測分析