X射線粉末衍射（XRPD）技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸,、微應變、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。LYNXEYE XE-T主要用于0D,、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具有始終有效的出色能量鑒別能力，同時不會損失二級單色器信號,。杭州晶型檢測分析

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕，整個軟件盡在掌握,。上海D2 PHASER檢測分析X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應力分析,、晶體取向分析,。

藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）?；塾糜卺t(yī)藥,、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中，常伴生有其他礦石,，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì)。而根據(jù)中國藥典,，藥用滑石粉中,，石棉應“不得檢出”。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,，就會產(chǎn)生揚塵,，污染大氣；若排入水系會造成河流淤塞,，而其中的有毒化學物質(zhì)還會對人體和生物造成危害,。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關注的熱點,。比如，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰,，則需要對其元素和礦相組成有詳細的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài),。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標準物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的，但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,，這個方法就現(xiàn)實,。目前一種全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*，解決了這一難題,，實現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標樣定量分析,。殘余應力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。而有了UMC樣品臺的加持,，D8 DISCOVER更是成為了電動位移和重量能力方面的同類較好,。上海購買XRD衍射儀

對較大300 mm的樣品進行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品、自動化接口,。杭州晶型檢測分析

X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術,，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)。XRR的特點：1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進行測試3XRR適用于納米薄膜，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差杭州晶型檢測分析