淀粉結(jié)晶度測定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個重要參數(shù)，也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù)，其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應(yīng)用性能,、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法（XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值。采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進行XRR分析,，測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度,。點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。廣州購買XRD衍射儀推薦咨詢對較大300 mm的樣品進行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動化接口。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,，這遠遠大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無法利用整個樣品的體積,，衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進行測量，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進行1D掃描,，來進行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進行半定量分析,，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析,。在DIFFRAC.EVA中,，對塑料薄膜進行WAXS測量分析。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了,。

石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀（XRD）,，可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,，X射線衍射（XRD）是分析頁巖層所必不可少的技術(shù),，可進行礦物學(xué)定性和定量表征。X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER識別膨脹性粘土（PDF）X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER對頁巖層進行井場礦物學(xué)分析（PDF）無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。這種X射線源可提供高亮度光束，對mm大小的樣品研究,，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。BRUKERXRD衍射儀哪里好

定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析。點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

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