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廣東檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-11-29

波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能,,比如凝結(jié)性能和強(qiáng)度變化等,,不光是由化學(xué)組成所決定的,,而主要是由其礦物組成所決定的,。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計(jì)算方法或熟料顯微鏡分析方法。這些方法的缺點(diǎn)是眾所周知的,。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合,。可以確定孰料中的C3S,、C2S,、C3A、C4AF等主要礦相的含量,,還可以得到C3S、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量,。UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析,,也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn),。廣東檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

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API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),應(yīng)使用“優(yōu)勢(shì)藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,,以保證藥品臨床有效性,、安全性與質(zhì)量可控性。說(shuō)明目前藥物行業(yè)對(duì)晶型的重視,。晶型,,特別是API晶型對(duì)藥物的功能有直接關(guān)心,,同一API的不同晶型在溶解度、熔點(diǎn),、溶出度,、生物有效性等方便可能會(huì)有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。單晶衍射儀D8D在金屬樣品檢測(cè)中,,殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)是其中小部分,,目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。

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RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試,X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響(圖1)。另外,,如果衍射簡(jiǎn)單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,,衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問(wèn)題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明:GID需要硬件配置,;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,,不適合單晶外延膜。

XRD檢測(cè)聚合物結(jié)晶度測(cè)定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時(shí),,可以通過(guò)評(píng)估結(jié)晶度來(lái)確定剛度不足,裂紋,,發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,測(cè)量結(jié)晶度的方法包括密度,,熱分析,,NMR、IR以及XRD方法,。這里將給出通過(guò)X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測(cè)定結(jié)晶度的方法的說(shuō)明以及實(shí)例,。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,,其散射信號(hào)來(lái)源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值:PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個(gè)確保測(cè)得強(qiáng)度的線性的自動(dòng)吸收器,,并可在以下之間切換:電動(dòng)狹縫,,分光晶體。

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獲得的TRIO光路簡(jiǎn)化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù),即可在三個(gè)光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對(duì)所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延),。利用布魯克樣品臺(tái),,能精確地操縱樣品。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺(tái)和落地式樣品臺(tái),。湖北第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)XRD衍射儀

專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對(duì)從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì),。廣東檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),,它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,,您可以通過(guò)Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長(zhǎng)程有序),,通過(guò)漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序)。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具,、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。廣東檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀