探索LIMS在綜合第三方平臺(tái)建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS,?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件,?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺(tái)的D8D的一大優(yōu)勢(shì)就是可以對(duì)大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。半導(dǎo)體與微電子:從過(guò)程開(kāi)發(fā)到質(zhì)量控制,,D8D可以對(duì)亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選:新結(jié)構(gòu)測(cè)定以及多晶篩選是藥物開(kāi)發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對(duì)此,,D8D具有高通量篩選功能,。儲(chǔ)能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測(cè)試電池材料,直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲(chǔ)能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息,。在DIFFRAC.LEPTOS中,,進(jìn)行晶片分析:分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性。湖北原位分析XRD衍射儀推薦咨詢
XRD檢測(cè)納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),,而X射線衍射是測(cè)定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個(gè)完整小單晶的大小)可通過(guò)謝樂(lè)公示計(jì)算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長(zhǎng),,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開(kāi)放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),,將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)合肥粉末衍射檢測(cè)分析D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見(jiàn)的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析:掠入射衍射,、X射線反射率測(cè)量,。
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試,X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響(圖1),。另外,,如果衍射簡(jiǎn)單較高,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,,衍射信號(hào)弱。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問(wèn)題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明:GID需要硬件配置,;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,不適合單晶外延膜,。
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟(jì)型版本,,是D8衍射儀系列平臺(tái)的入門款。隨著采購(gòu)和維護(hù)X射線分析的資源愈發(fā)有限,,人們對(duì)準(zhǔn)確性,、精度和速度的要求也達(dá)到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態(tài)足跡、易用性和出色的分析性能是其突出的特點(diǎn),。得益于精簡(jiǎn)的儀器配置,,不論預(yù)算如何,它都是您的理想之選,。與D8ADVANCE系列其他產(chǎn)品一樣,,D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,包括典型的X射線粉末衍射(XRD)對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,。PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個(gè)確保測(cè)得強(qiáng)度的線性的自動(dòng)吸收器,,并可在以下之間切換:電動(dòng)狹縫,分光晶體,。
D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,,是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過(guò)的組件,可為您帶來(lái)較好的性能和充分的靈活性,,同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征:定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,,可通過(guò)使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測(cè)角儀還是ATLAS測(cè)角儀進(jìn)行區(qū)分。上海透射檢測(cè)分析
UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品,、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析,,也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn)。湖北原位分析XRD衍射儀推薦咨詢
材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺(tái)式XRD儀器,,主要用于研究和質(zhì)控,。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu)、研究快速可靠的SAXS測(cè)量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)(微晶尺寸),。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)(PDF)陽(yáng)極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對(duì)殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案,,旨在以可靠的方式,支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時(shí)隨地開(kāi)展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。湖北原位分析XRD衍射儀推薦咨詢