X射線反射率測(cè)定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù)，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過(guò)分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn)：1無(wú)損檢測(cè)2對(duì)樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒(méi)有要求,，不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測(cè)試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過(guò)5nm5多層膜之間要求有密度差D8D在金屬樣品檢測(cè)中，殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀配件

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。粉煤灰EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實(shí)驗(yàn)室X射線衍射的2D檢測(cè)器。

X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見(jiàn)的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變,、無(wú)序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”：指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),，應(yīng)使用“優(yōu)勢(shì)藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型，以保證藥品臨床有效性,、安全性與質(zhì)量可控性,。說(shuō)明目前藥物行業(yè)對(duì)晶型的重視。晶型,，特別是API晶型對(duì)藥物的功能有直接關(guān)心,，同一API的不同晶型在溶解度、熔點(diǎn),、溶出度,、生物有效性等方便可能會(huì)有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,?？偵⑸浞治觯築ragg衍射、對(duì)分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）,。

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn)，D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,，其中包括結(jié)構(gòu)測(cè)定,、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試,。地質(zhì)學(xué)：D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD,，哪怕是對(duì)小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定也不在話下。金屬：在常見(jiàn)的金屬樣品檢測(cè)技術(shù)中,。殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)不過(guò)是其中的一小部分，檢測(cè)目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求,。薄膜計(jì)量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。而有了UMC樣品臺(tái)的加持，D8 DISCOVER更是成為了電動(dòng)位移和重量能力方面的同類較好,。檢測(cè)XRD衍射儀哪里好

憑借RapidRSM技術(shù),，能在 短的時(shí)間內(nèi)，測(cè)量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行倒易點(diǎn)陣轉(zhuǎn)換和分析。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀配件

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過(guò)的組件,，可為您帶來(lái)較好的性能和充分的靈活性，同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀配件