技術規(guī)范：X射線源：20-100kV,，10W，焦點尺寸＜5μm@4WX射線探測器：1600萬像素（4904×3280像素）或1100萬像素（4032×2688像素）14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體標稱分辨率（放大率下樣品的像素）：1600萬像素探測器＜0.35um,；1100萬像素探測器＜0.45um,，重建容積圖（單次掃描）：1600萬像素探測器，14456×14456×2630像素1100萬像素探測器,，11840×11840×2150像素掃描空間：0-直徑75mm,，長70mm輻射安全：在儀器表面的任何一點上＜1uSv/h外形尺寸：1160（寬）×520（深）×330（高）毫米（帶樣品切換器高440毫米）重量：150千克，不含包裝電源：100-240V/50-60Hz,?？鞄始犹貏e優(yōu)化的閃爍體，能在不到15秒的超短時間內獲得 圖像,，這適合于時間分辨三維X射線顯微成像,。江西新型顯微CT調試

§DataViewer可視化軟件通過DavaViewer可靈活查看重構后的圖像?？蓪崿F(xiàn)逐層動畫演示,，以重構空間任意一點為中心采用三個正交切片顯示，可用鼠標靈活控制,?？衫@任意軸旋轉物體，或以任意方向重新保存圖像,?？蓪崿F(xiàn)掃描過程中（配備相應的樣品臺）4維展示壓縮/拉伸/溫度變化產(chǎn)生的影響以及在活的掃描儀中與呼吸和心跳活動的時間相關成像,。軟件還包括平滑處理，保存矢狀面或冠狀面差值數(shù)據(jù),，測量和保存距離及強度曲線,。允許當前數(shù)據(jù)與從新的數(shù)據(jù)中提取的不同信息進行自動耦合。材料內部孔隙結構研究SKYSCAN 1272 CMOS只需單擊一下,，即可自動優(yōu)化放大率,、能量、過濾,、曝光時間和背景校正,。

高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內部結構非破壞性的成像技術眼見為實!這是我們常常將顯微鏡應用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束,，對樣品直接進行成像,。其他的，如原子力顯微鏡（AFM）,，則利用傳感器來檢測樣品表面,。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結構或特性的局部二維圖像。但是,，是否存在一種技術能實現(xiàn)以下幾點功能,？☉內部結構三維成像？⊙一次性測量整個樣品,？⊙直接檢測,？⊙無需進行大量樣品制備，如更換或破壞樣品,，就能實現(xiàn)上述目標,？

SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品，比通過單個探測器視場所能掃描的范圍還要大,。通過分段式掃描和探測器偏置掃描,，SKYSCAN1273可以掃描直徑達到250mm和長度達到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起,。SKYSCAN1273地質XRM能對不同的地質材料（從很小的礦物樣品到全尺寸的大型巖心）進行無損檢測,。1.定量分析粒度、開/閉孔隙度和連通性等結構參數(shù)2.計算礦物相的3D分布情況3.通過原位力學實驗,，實現(xiàn)樣品結構與力學性能的關聯(lián)4.多孔介質中的流體流動,、結晶和溶解等過程的可視化。所有測量支持手動設置,確保為難度較大的樣本設置參數(shù),。在分辨率低于5μm的情況下,掃描時間也在15分鐘以內,。

ROIShrink-wrap功能可以完美的解決復雜形態(tài)ROI的自動選取，并且可以與CTAn的另一個功能PrimitiveROI相結合,，可以ROI包含我們感興趣的邊界,。高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)可以應用在多孔介質滲流特性的研究中，與入口和出口表面相連通的孔隙在其中起到關鍵作用,，高精度三維成像系統(tǒng)如何在錯綜復雜的孔隙網(wǎng)絡中選取其中起關鍵作用的區(qū)域對于多孔介質滲流機理的研究就至關重要了,。下圖展示了X射線三維納米顯微鏡中ROIShrink-wrap與PrimitiveROI相結合所獲取與上下表面相通的孔隙網(wǎng)絡。和其它的試驗臺一樣,，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接,，系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。江蘇特殊顯微CT哪里好

Individualobject analysis插件可以將不同顏色編碼的圖像保存到剪貼板,，根據(jù)所選的特征個體會被賦予灰度值,。江西新型顯微CT調試

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