XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時(shí)，可以通過評(píng)估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例,。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號(hào)來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值：D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量,。上海結(jié)構(gòu)解析檢測分析

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對(duì)EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。浙江XRD衍射儀檢測D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。

石油和天然氣D2PHASER是一種移動(dòng)式的臺(tái)式X射線衍射儀（XRD），可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外,，X射線衍射（XRD）是分析頁巖層所必不可少的技術(shù)，可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER識(shí)別膨脹性粘土（PDF）X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER對(duì)頁巖層進(jìn)行井場礦物學(xué)分析（PDF）無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點(diǎn)技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點(diǎn)的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對(duì)從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì),。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率，著實(shí)出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾,，而且無需金屬濾波片,，因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影，如殘余K?和吸收邊,。同樣,，也無需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時(shí)保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。上海點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀

PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個(gè)確保測得強(qiáng)度的線性的自動(dòng)吸收器,，并可在以下之間切換：電動(dòng)狹縫，分光晶體,。上海結(jié)構(gòu)解析檢測分析

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對(duì)稱性很差時(shí),，如圖2，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對(duì)衍射峰進(jìn)行分峰處理，得到各個(gè)子峰的峰位和積分強(qiáng)度值，如圖2所示,。分別計(jì)算各子峰的石墨化度,，再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重，歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實(shí)驗(yàn)（藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn)）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結(jié)果）石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。上海結(jié)構(gòu)解析檢測分析