薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質量、殘余應力,、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。安裝在標準陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換，無需認為干預,。浙江BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,，如圖2，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對衍射峰進行分峰處理，得到各個子峰的峰位和積分強度值,，如圖2所示,。分別計算各子峰的石墨化度，再利用各子峰的積分強度為權重,，歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實驗（藍色數(shù)據(jù)點）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜，兩綠色為單峰擬合結果）石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一。廣東原位分析XRD衍射儀推薦咨詢使用D8D,，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,，直截了當?shù)孬@取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息。

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結構信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結構（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,，您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100％過濾,，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強度的二級單色器,。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品,。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體,、殘余應力和織構檢測是其中小部分，目的在于確保產品完成復合用戶需求,。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內標以校準。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內標物,，加入待測石墨樣品中，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一,。UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應用和涂層分析，也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗,。天津檢測實驗室XRD衍射儀

從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質量、薄膜厚度,、成分外延排列和應變松弛技術,。浙江BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

介孔分子篩SBA-15結構分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結構，具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容,，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性，有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應中應用,，因此在催化、分離,、生物及納米材料等領域有應用前景,。SBA-15結構特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關聯(lián)，而XRD是表征其結構的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度，這導致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號。目前,，隨著衍射儀的發(fā)展,，動態(tài)光路對的設計很好的解決了這類問題。實例SBA-15小角度XRD圖譜,，五個衍射峰分別對應(100),、(110)、(200),、(300),、(220)。根據(jù)圖2示意圖,，計算得到平均孔距浙江BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢