RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）,。另外,，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜。利用布魯克樣品臺(tái),，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺(tái)和落地式樣品臺(tái),。江蘇原位分析XRD衍射儀配件

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。使用了2D檢測(cè)器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過(guò)積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來(lái)進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見(jiàn)，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對(duì)EIGER2R500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。失配這種X射線源可提供高亮度光束,，對(duì)mm大小的樣品研究,，或使用μm大小光束進(jìn)行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇。

由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對(duì)從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì),。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對(duì)分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）所有樣品臺(tái)都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,，因此元件及其電動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置可在安裝時(shí)自動(dòng)完成識(shí)別和配置,。

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場(chǎng)合，它都是您的可選的探測(cè)器：高的計(jì)數(shù)率,、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證，面向未來(lái)的多用途采用了開(kāi)放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì),，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。該系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,，且無(wú)需人工干預(yù)，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末,、塊狀物體,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇,。安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,，可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動(dòng)地進(jìn)行電動(dòng)切換，無(wú)需認(rèn)為干預(yù),。云南BRUKERXRD衍射儀

MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測(cè)器完全兼容,。江蘇原位分析XRD衍射儀配件

藥物制劑生產(chǎn)過(guò)程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過(guò)溶解、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過(guò)程,，在此過(guò)程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國(guó)內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過(guò)程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測(cè)更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,，為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具,。江蘇原位分析XRD衍射儀配件