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杭州量子阱檢測分析

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-04-18

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,,是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件,,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,同時(shí)讓研究人員對材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征:定性相分析和結(jié)構(gòu)測定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描在DIFFRAC.LEPTOS中,,進(jìn)行晶片分析:分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性,。杭州量子阱檢測分析

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BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,,將樣品制備問題可視化,如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒有代表性的測量結(jié)果,。運(yùn)營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù),無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,,不斷改進(jìn)其分析解決方案,。在D2PHASER方面,我們針對水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包,,其中包括針對10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的、供工廠應(yīng)用的測量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法,,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué)。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,,請參見D8ENDEAVOR,。合肥熟料礦相檢測分析LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,,具有始終有效的出色能量鑒別能力,,同時(shí)不會(huì)損失二級(jí)單色器信號(hào)。

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獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在三個(gè)光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延),。

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,,進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。在DIFFRAC.LEPTOS中,,對多層樣品進(jìn)行XRR分析,測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。

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D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟(jì)型版本,,是D8衍射儀系列平臺(tái)的入門款。隨著采購和維護(hù)X射線分析的資源愈發(fā)有限,,人們對準(zhǔn)確性,、精度和速度的要求也達(dá)到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態(tài)足跡,、易用性和出色的分析性能是其突出的特點(diǎn),。得益于精簡的儀器配置,不論預(yù)算如何,,它都是您的理想之選,。與D8ADVANCE系列其他產(chǎn)品一樣,D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,,包括典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,。所有樣品臺(tái)都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,因此元件及其電動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置可在安裝時(shí)自動(dòng)完成識(shí)別和配置,。北京XRD衍射儀哪里好

卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用,,如應(yīng)力、織構(gòu)和外延膜分析,,包括在非環(huán)境條件下,。杭州量子阱檢測分析

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。杭州量子阱檢測分析

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀