二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,，且具有高熔點(diǎn)、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯更換光學(xué)期間時，無需工具,，亦無需對光,，因此您可輕松快速地更改配置。天津全新XRD衍射儀

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰,，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理,，就會產(chǎn)生揚(yáng)塵，污染大氣,；若排入水系會造成河流淤塞,，而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點(diǎn),。比如，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰,，則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài),。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量。在實(shí)驗(yàn)室中這個方法是可行的,，但在實(shí)際生產(chǎn)和快速檢測過程中,，這個方法就現(xiàn)實(shí)。目前一種全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*,，解決了這一難題,，實(shí)現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標(biāo)樣定量分析。珠海布魯克XRD衍射儀哪里好全能運(yùn)動概念確保當(dāng)樣品在移動時,，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜，有5個自由度,。

藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,。滑石粉用于醫(yī)藥,、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中，常伴生有其他礦石,，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì)。而根據(jù)中國藥典,，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進(jìn)檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個確保測得強(qiáng)度的線性的自動吸收器，并可在以下之間切換：電動狹縫,，分光晶體,。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因?yàn)槠鋵υ咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。XRD衍射儀

所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分，因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置,。天津全新XRD衍射儀

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持。天津全新XRD衍射儀