二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,，且具有高熔點(diǎn),、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：?jiǎn)涡毕?、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對(duì)二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯在DIFFRAC.SAXS中,，對(duì)EIGER2 R 500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。江西點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）。另外，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜,。購(gòu)買(mǎi)XRD衍射儀配件可在數(shù)秒內(nèi)，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時(shí)間。

藥用滑石粉中石棉的測(cè)定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,?；塾糜卺t(yī)藥、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過(guò)程中,，常伴生有其他礦石，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì),。而根據(jù)中國(guó)藥典，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”,。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE。

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見(jiàn)的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國(guó)藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場(chǎng)合，它都是值得您選擇的探測(cè)器：高的計(jì)數(shù)率,、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證。D8衍射儀系列平臺(tái)的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益，用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù)。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途,、多用戶(hù)實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺(tái)。它可理想地滿(mǎn)足您對(duì)所有樣品類(lèi)型的需求,，包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢(shì)在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕，整個(gè)軟件盡在掌握,。定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線束局部分析,。微區(qū)

根據(jù)應(yīng)用需求，調(diào)節(jié)探測(cè)器的位置和方向,，包括0°/ 90°免工具切換以及探測(cè)器位置可連續(xù)變化,、支持自動(dòng)對(duì)光。江西點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀

材料研究樣品臺(tái)緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)能夠精確地移動(dòng)樣品,，因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺(tái)可對(duì)2Kg的樣品進(jìn)行電動(dòng)移動(dòng)：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個(gè)小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外，它還具有真空多用途通孔,，可通過(guò)小型薄膜樣品架或大型手動(dòng)X-Y樣品臺(tái),，將樣品固定在適當(dāng)位置。二者均可用于溫控樣品臺(tái),，進(jìn)行非環(huán)境分析,。另外，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺(tái)卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺(tái),。江西點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀