那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm,。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測(cè)石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。D8 DISCOVER 特點(diǎn)：UMC樣品臺(tái)可對(duì)重達(dá)5 kg的樣品進(jìn)行掃描,、大區(qū)域映射300mm的樣品、高通量篩選支持三個(gè)孔板,。杭州掠入射檢測(cè)分析

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺(tái)式XRD儀器,，主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu),、研究快速可靠的SAXS測(cè)量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)（微晶尺寸）,。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)（PDF）陽極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對(duì)殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案，旨在以可靠的方式,，支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時(shí)隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。蘇州HRXRD檢測(cè)分析卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用，如應(yīng)力,、織構(gòu)和外延膜分析,，包括在非環(huán)境條件下。

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),，具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,，有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,，因此在催化,、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,，這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號(hào)。目前,，隨著衍射儀的發(fā)展,，動(dòng)態(tài)光路對(duì)的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題,。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜，五個(gè)衍射峰分別對(duì)應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300),、(220),。根據(jù)圖2示意圖，計(jì)算得到平均孔距

X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。憑借RapidRSM技術(shù),，能在 短的時(shí)間內(nèi)，測(cè)量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行倒易點(diǎn)陣轉(zhuǎn)換和分析。

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測(cè)手段。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE?？稍跀?shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn)，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時(shí)間,。原位分析XRD衍射儀什么價(jià)格

LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時(shí)不會(huì)損失二級(jí)單色器信號(hào)。杭州掠入射檢測(cè)分析

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途,、多用戶實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺(tái)。它可理想地滿足您對(duì)所有樣品類型的需求,，包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢(shì)在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,，整個(gè)軟件盡在掌握。杭州掠入射檢測(cè)分析