LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實(shí)出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾,，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強(qiáng)度的二級單色器,。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面，可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動地進(jìn)行電動切換,，無需認(rèn)為干預(yù),。廣東布魯克XRD衍射儀推薦咨詢

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器，主要用于研究和質(zhì)控,。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu),、研究快速可靠的SAXS測量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)（微晶尺寸）。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)（PDF）陽極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案,，旨在以可靠的方式,，支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作。浙江布魯克XRD衍射儀配件在DIFFRAC.EVA中,，對塑料薄膜進(jìn)行WAXS測量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了。

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景，該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi)，保證實(shí)現(xiàn)儀器對準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗證協(xié)議,，它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,，且具有高熔點(diǎn),、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析,。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分，因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置,。

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：D8測角儀巨有市場超前地精確度，為布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ),。福建檢測XRD衍射儀

從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù),。廣東布魯克XRD衍射儀推薦咨詢

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。廣東布魯克XRD衍射儀推薦咨詢