D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經濟型版本,，是D8衍射儀系列平臺的入門款,。隨著采購和維護X射線分析的資源愈發(fā)有限,，人們對準確性,、精度和速度的要求也達到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案：較小的生態(tài)足跡,、易用性和出色的分析性能是其突出的特點,。得益于精簡的儀器配置,，不論預算如何,，它都是您的理想之選。與D8ADVANCE系列其他產品一樣,，D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應用,，包括典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下。更換光學期間時,，無需工具,，亦無需對光，因此您可輕松快速地更改配置,。湖南BRUKERXRD衍射儀哪里好

淀粉結晶度測定引言淀粉結晶度是表征淀粉顆粒結晶性質的一個重要參數,，也是表征淀粉材料類產品性質的重要參數，其大小直接影響著淀粉產品的應用性能,、淀粉材料的物理和機械性能,。X射線衍射法（XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結晶度常用的方法之一。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值。采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設計江西進口XRD衍射儀哪里好在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2 R 500K通過2D模式手機的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進行粒度分析,。

對分布函數（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結構信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序）,，通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）。就分析速度,、數據質量以及對非晶,、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米，這遠遠大于薄膜的厚度,，導致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個樣品的體積，衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度，同時增加衍射顆粒的數目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。使用D8D,，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料，直截了當地獲取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息,。

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進行XRR分析。廣東進口XRD衍射儀哪里好

殘余應力分析,、織構和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）,。湖南BRUKERXRD衍射儀哪里好

殘余應力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進行測量,，對鋼構件的殘余應力進行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結構特性,。通過積分2D圖像，進行1D掃描,，來進行定性相分析和微觀結構分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見，這是因為其對原子結構十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術實現,。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進行半定量分析,，以現實孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。湖南BRUKERXRD衍射儀哪里好