獲得的TRIO光路簡(jiǎn)化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,，可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在三個(gè)光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對(duì)所有樣品類型進(jìn)行分析，其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）,。D8D在金屬樣品檢測(cè)中,，殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求。合肥取向檢測(cè)分析

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件,，可為您帶來較好的性能和充分的靈活性，同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描湖南進(jìn)口XRD衍射儀在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同不,，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對(duì)從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì),。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對(duì)分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差，是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問題可視化，如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒有代表性的測(cè)量結(jié)果,。運(yùn)營成本低不消耗水硅條帶探測(cè)器技術(shù)，無需使用探測(cè)器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作,，不斷改進(jìn)其分析解決方案,。在D2PHASER方面,，我們針對(duì)水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包，其中包括針對(duì)10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)營,。對(duì)于每天需要測(cè)量大量樣品的大型工廠，請(qǐng)參見D8ENDEAVOR,。根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測(cè)器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切換以及探測(cè)器位置可連續(xù)變化,、支持自動(dòng)對(duì)光,。

XRD檢測(cè)聚合物結(jié)晶度測(cè)定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù)。有時(shí),，可以通過評(píng)估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,，測(cè)量結(jié)晶度的方法包括密度，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測(cè)定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例,。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號(hào)來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值：定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線束局部分析,。安徽BRUKERXRD衍射儀

在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行晶片分析：分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性。合肥取向檢測(cè)分析

制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變，進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測(cè)更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,，為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具。合肥取向檢測(cè)分析