由于具有出色的適應(yīng)能力,,*使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS),。廣東購(gòu)買(mǎi)XRD衍射儀
API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),,應(yīng)使用“優(yōu)勢(shì)藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,,以保證藥品臨床有效性、安全性與質(zhì)量可控性,。說(shuō)明目前藥物行業(yè)對(duì)晶型的重視,。晶型,,特別是API晶型對(duì)藥物的功能有直接關(guān)心,同一API的不同晶型在溶解度,、熔點(diǎn),、溶出度、生物有效性等方便可能會(huì)有不同,。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。上海進(jìn)口XRD衍射儀哪里好MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測(cè)器完全兼容,。
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),,著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。
藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),,D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,,其中包括結(jié)構(gòu)測(cè)定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試,。地質(zhì)學(xué):D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選。借助μXRD,,哪怕是對(duì)小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定也不在話下,。金屬:在常見(jiàn)的金屬樣品檢測(cè)技術(shù)中。殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)不過(guò)是其中的一小部分,,檢測(cè)目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求。薄膜計(jì)量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù)。涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時(shí),,D8 DISCOVER是較好解決方案,。
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試,,X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響(圖1),。另外,如果衍射簡(jiǎn)單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問(wèn)題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明:GID需要硬件配置;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,,不適合單晶外延膜,。在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,,用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,,對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。上海進(jìn)口XRD衍射儀哪里好
D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,,可通過(guò)使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測(cè)角儀還是ATLAS測(cè)角儀進(jìn)行區(qū)分,。廣東購(gòu)買(mǎi)XRD衍射儀
X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見(jiàn)的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,,并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變、無(wú)序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具,、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE。廣東購(gòu)買(mǎi)XRD衍射儀