材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應力、織構和外延薄膜分析,。另外,，它還具有真空多用途通孔，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺,。UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應用和涂層分析，也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗,。南京應力檢測分析

藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,。滑石粉用于醫(yī)藥,、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中,，常伴生有其他礦石，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì),。而根據(jù)中國藥典，藥用滑石粉中,，石棉應“不得檢出”,。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。福建全新XRD衍射儀使用D8D，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,，直截了當?shù)孬@取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息,。

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景,，該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結構分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),，保證實現(xiàn)儀器對準（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴格的儀器驗證協(xié)議,，它可為所有應用提供準確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進行殘余應力和織構測量,。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力,，可延長其功能壽命。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構,，可顯著增強其特性,。這兩種技術在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領域也占有一席之地。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。D8 DISCOVER配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供更大強度小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究。

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器,。湖北XRD衍射儀推薦咨詢

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D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計,。應用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應力分析、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）南京應力檢測分析