API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”：指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),，應(yīng)使用“優(yōu)勢藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,，以保證藥品臨床有效性,、安全性與質(zhì)量可控性,。說明目前藥物行業(yè)對(duì)晶型的重視,。晶型,，特別是API晶型對(duì)藥物的功能有直接關(guān)心,，同一API的不同晶型在溶解度,、熔點(diǎn),、溶出度、生物有效性等方便可能會(huì)有不同,。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。配備了UMC樣品臺(tái)的DISCOVER，優(yōu)勢在于對(duì)大型機(jī)械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。合肥D8 ADVANCE檢測分析

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。上海應(yīng)力檢測分析D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,，包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本，是面向多用途,、多用戶實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺(tái),。它可理想地滿足您對(duì)所有樣品類型的需求，包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換。您只需按下按鈕,，整個(gè)軟件盡在掌握,。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對(duì)EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。而有了UMC樣品臺(tái)的加持,，D8 DISCOVER更是成為了電動(dòng)位移和重量能力方面的同類較好,。

X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相，并測定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。在DIFFRAC.LEPTOS中，對(duì)多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析,。福建進(jìn)口XRD衍射儀

候選材料鑒別（PMI） 為常見，這是因?yàn)閷?duì)其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。合肥D8 ADVANCE檢測分析

基于的D8衍射儀系列平臺(tái)的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。合肥D8 ADVANCE檢測分析