X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修，由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）,。湖北全新XRD衍射儀

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,，就會產(chǎn)生揚塵,，污染大氣；若排入水系會造成河流淤塞,，而其中的有毒化學物質(zhì)還會對人體和生物造成危害,。所以，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點,。比如,，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等。要合理高效的利用粉煤灰,，則需要對其元素和礦相組成有詳細的了解,。粉煤灰的礦相主要莫來石、石英以及大量的非晶態(tài),。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標準物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的，但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,，這個方法就現(xiàn)實,。目前一種全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*，解決了這一難題,，實現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標樣定量分析,。湖北進口XRD衍射儀哪里好對較大300 mm的樣品進行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品、自動化接口,。

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。

淀粉結(jié)晶度測定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個重要參數(shù)，也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù),，其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應用性能,、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法（XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值,。采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設計該X射線源有6kW的功率,，其強度是標準陶瓷射線管5倍，在線焦點和點焦點應用中均具有出色的性能,。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm,。為實際石墨試樣（002）晶面間距，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標以校準。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標物,，加入待測石墨樣品中，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析,。湖北BRUKERXRD衍射儀

候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。湖北全新XRD衍射儀

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕，整個軟件盡在掌握,。湖北全新XRD衍射儀