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來源: 發(fā)布時間:2025-05-17

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,,可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時。除此之外,,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),,具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,,包括高性能X射線源,、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器,。杭州GaN檢測分析

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那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,nm,;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,,nm。為實際石墨試樣(002)晶面間距,,nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,,用硅作為內(nèi)標(biāo)物,加入待測石墨樣品中,,在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,,應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。江西BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力,。

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汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導(dǎo)體與微電子:從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選:新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,對此,,D8D具有高通量篩選功能,。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息,。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。根據(jù)應(yīng)用需求,調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動對光。

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對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),,通過漫散射,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。杭州GaN檢測分析

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀