X射線粉末衍射（XRPD）技術是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析（微晶尺寸、微應變、無序…）熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構（擇優(yōu)取向）分析指標化,、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進行XRR分析,，測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度,。湖南微觀應變分析XRD衍射儀哪里好

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產,，D8D為藥品的整個生命周期提供支持，其中包括結構測定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質學：D8D是地質構造研究的理想之選,。借助μXRD,，哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術中,。殘余奧氏體,、殘余應力和織構檢測不過是其中的一小部分，檢測目的在于確保終產品復合終用戶的需求,。薄膜計量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質量,、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛的一系列技術,。珠海微觀應變分析XRD衍射儀檢測D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量,、殘余應力,、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質量控制技術和方法指導原則”：指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,，應使用“優(yōu)勢藥物晶型物質狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,，以保證藥品臨床有效性、安全性與質量可控性,。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視,。晶型，特別是API晶型對藥物的功能有直接關心,，同一API的不同晶型在溶解度、熔點,、溶出度,、生物有效性等方便可能會有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。這種X射線源可提供高亮度光束,，對mm大小的樣品研究，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質不活潑,，且具有高熔點、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨特的物理化學性質,，使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結構主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相。不同晶體結構對應的物理化學性質有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進行快速定量分析。實例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯孔板和沉積樣品在反射和透射中的高通量篩選,。江蘇微觀應變分析XRD衍射儀配件

安裝在標準陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換，無需認為干預,。湖南微觀應變分析XRD衍射儀哪里好

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結構信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序）,，通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）。就分析速度、數(shù)據(jù)質量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀,。湖南微觀應變分析XRD衍射儀哪里好