D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，帶有諸多前沿技術組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設計。應用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應力分析,、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）利用布魯克樣品臺，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。湖南原位分析XRD衍射儀推薦咨詢

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求，包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,，整個軟件盡在掌握,。浙江實驗室檢測XRD衍射儀D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體、殘余應力和織構(gòu)檢測是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復合用戶需求,。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,，進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序），通過漫散射,，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容,。

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D8 DISCOVER系列是市面上準確,、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案。湖南原位分析XRD衍射儀推薦咨詢

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