測試軟件運行后,，示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一 個測試報告,，測試報告中列出了測試的項目、是否通過,、spec的要求,、實測值、margin等,。 自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子,。信號質(zhì)量的測試還可以  輔 助 用 戶 進 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 ， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,，用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,，并分析對信號質(zhì) 量的影響。

除了一致性測試以外,，DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能,。比如在某個關鍵參數(shù)測試 失敗后，可以針對這個參數(shù)進行Debug,。此時,，測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進 行參數(shù)統(tǒng)計,，根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置,， 擴展 DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件的功能。PCI-E測試DDR一致性測試維保

DDR規(guī)范沒有定義模板,，這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn),。有基于JEDEC規(guī)范定義的,，ds、,，dh,、-H(ac)min和rIL(ac)max參數(shù),得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區(qū)域就是模板,，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿,。嚴格按規(guī)范來說的話，中間的模板應該定義為橫著的梯形,，因為保持時間是相對于DC參數(shù)的,，不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數(shù)要求。

DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求

因為Jedec規(guī)范沒有給岀DDR具體的快的上升,、下降時間,，通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間，但是往往比實際要快,，是基于實際PCB板材的情況得出的結(jié)果,，有 了這個結(jié)果可計算出需要的示波器帶寬。 PCI-E測試DDR一致性測試維保DDR眼圖讀寫分離的傳統(tǒng)方法,。

DDR的信號探測技術

在DDR的信號測試中,，還有 一 個要解決的問題是怎么找到相應的測試點進行信號探 測。由于DDR的信號不像PCle,、SATA,、USB等總線 一 樣有標準的連接器，通常都是直接 的BGA顆粒焊接,，而且JEDEC對信號規(guī)范的定義也都是在內(nèi)存顆粒的BGA引腳上,，這就 使得信號探測成為一個復雜的問題。

比如對于DIMM條的DDR信號質(zhì)量測試來說,，雖然在金手指上測試是方便的找到 測試點的方法,，但是測得的信號通常不太準確。原因是DDR總線的速率比較高,，而且可能 經(jīng)過金手指后還有信號的分叉,，這就造成金手指上的信號和內(nèi)存顆粒引腳上的信號形狀差異很大。

對于嵌入式應用的DDR的協(xié)議測試,， 一般是DDR顆粒直接焊接在PCB板上,，測試可 以選擇針對邏輯分析儀設計的BGA探頭。也可以設計時事先在板上留測試點,，把被測信 號引到一些按一定規(guī)則排列的焊盤上,，再通過相應探頭的排針頂在焊盤上進行測試。

協(xié)議測試也可以和信號質(zhì)量測試,、電源測試結(jié)合起來,，以定位由于信號質(zhì)量或電源問題 造成的數(shù)據(jù)錯誤。圖5.23是一個LPDDR4的調(diào)試環(huán)境,，測試中用邏輯分析儀觀察總線上 的數(shù)據(jù),，同時用示波器檢測電源上的紋波和瞬態(tài)變化，通過把總線解碼的數(shù)據(jù)和電源瞬態(tài)變 化波形做時間上的相關和同步觸發(fā),，可以定位由于電源變化造成的總線讀/寫錯誤問題,。 82496 DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程,；

為了進行更簡單的讀寫分離,，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開,。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時間不同,，Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù),，并進一步進行眼圖的測試,。

信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來,。

除了形成眼圖外,，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個模板對讀,、寫信號進行模板測試,，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR-致性測試探測和夾具,；眼圖測試DDR一致性測試故障

DDR命令,、地址和地址總線的建立時間和保持時間定義。PCI-E測試DDR一致性測試維保

DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種： 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒,，另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊,，主要用于服務器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存，主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用,。

在服務器領域,，使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM,、LRDIMM等,。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路，延時較小,，但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時,，UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等，設計難度較大，因此UDIMM在容量和頻率上都較低,，通常應用在性能/容量要求不高的場合,。 PCI-E測試DDR一致性測試維保